Шановнi науковцi!Вже пройшли тi часи, коли для участi у науковiй конференцiї обов"язково треба було їхати в iнше мiсто чи краiну. Тепер це можливо зробити набагато простiше.
К.ф.-м.н. В.О. Балицька, к.ф.-м.н. Л.І. Ярицька, А.А. Ренкас КІНЕТИКА ДЕГРАДАЦІЇ ВІДНОСНОЇ ЗМІНИ ОПОРУ ТЕРМОРЕЗИСТОРІВ З ВІД’ЄМНИМ ТКО НА ОСНОВІ ШПІНЕЛІ.
К.ф.-м.н. В.О. Балицька, к.ф.-м.н. Л.І. Ярицька, А.А. Ренкас
Кінетика деградації відносної зміни опору терморезисторів з від'ємним ТКО на основі шпінелі
Встановлення ефективних кореляційних співвідношень між параметрами, що визначають процеси старіння матеріалів електронної техніки, є одним з актуальних питань сучасної електроніки, насамперед з точки зору забезпечення високого рівня надійності приладів на основі цих матеріалів. Особливо гостро ця проблема стоїть по відношенню до терморезисторів з від'ємним температурним коефіцієнтом опору на основі керамічних напівпровідникових композитів, які широко використовуються в електроніці та інженерії для температурних вимірювань, а також в якості струмових обмежувачів, рідинних та газових датчиків, індикаторів швидкості потоку, тощо [1].
Мета даної роботи: використовуючи пакет комп'ютерних програм, встановити найбільш адекватну релаксаційну функцію, яка б описувала експериментально встановлені відносні зміни електричного опору керамічних терморезисторів на основі Cu0.1Ni0.8Co0.2Mn1.9O4 в процесі їх термічного старіння при температурі Т=170оС. Тривалість контрольних циклів ізотермічної витримки зразків складала 24, 72, 144, 288, 500, 740 і 1000 год. Для отримання ТР використовувалася традиційна керамічна технологія, детальний опис якої приведено в [2].
Вимірювання електричного опору ТР проводили компенсаційним методом при нормальних умовах (Т=25оС). В якості релаксаційного параметра використовували величину відносного приросту опору h=DR/Rо ТР (DR - різниця між початковим і кінцевим значеннями опору, Rо - значення початкового опору). Суть підходу полягає в тому, експериментально зняті точки моделювалися відомими релаксаційними функціями [3].
Результати математичного моделювання представлено на рисунках 1-5. Символами на графіках позначено експериментальні точки, суцільними лініями - моделюючі криві [3].
 |
 |
| Рис. 1. Кінетичні залежності термодеградації параметра відносної зміни електричного опору DR/Rо мономолекулярною релаксаційною функцією.
|
Рис. 2. Кінетичні залежності термодеградації параметра відносної зміни електричного опору DR/Rо бімолекулярною релаксаційною функцією. |
| . |
 |
| Рис. 3. Кінетичні залежності термодеградації параметра відносної зміни електричного опору DR/Rо частково узагальнюючою релаксаційною функцією. | Рис. 4. Кінетичні залежності термодеградації параметра відносної зміни електричного опору DR/Rо частково розширеноекспоненціальною релаксаційною функцією. |
Рис. 5. Кінетичні залежності термодеградації параметра відносної зміни електричного опору DR/Rо узагальнюючою релаксаційною функцією.
Як видно, найкращий результат дає розширено-експоненціальна релаксаційна функція (рис.4). Отриманий результат ще раз підтверджує той факт, що в дисперсно-розпорядкованих системах, до яких належать досліджувані матеріали, ізотермічна деградація того чи іншого параметра носить експоненціально-ступеневий характер, тобто є суперпозицією більш елементарних деградаційних процесів, кожен з яких характеризуються своїм часом релаксації.
Література:
1. Шефтель И. Терморезисторы. М., Наука, 1973.
2. Hadzaman I.V., Kovalsky A.P., Mrooz O.Ya., Shpotyuk O.I. Thermal modification of ceramic composites based on manganese-containing cube spinels. Mater. Letts. 1996, v. 29, p. 195-198.
3. Balitska V.O., Shpotyuk O.I., Vakiv M.M. Degradation of electron-induced dichroism in glassy As2S3-Sb2S3. Ukrainian Journal of Physical Optics. 2000, v. 1, p. 107-110.
